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Microscopio electrónico de barrido
Inicio Microscopio (SEM)

Microscopio electrónico de barrido

 

¿Qué es un microscopio electrónico de barrido (MEB)?

 

El microscopio electrónico de barrido (o SEM, de Scanning Electron Microscopy), es aquel que usa electrones en lugar de luz para formar imágenes de alta resolución, lo que significa que detalles espacialmente cercanos en la muestra pueden ser examinados a muchos aumentos, permitiendo una aproximación profunda al mundo atómico en materiales pétreos, metálicos, orgánicos, etc. Su resolución está entre 3 y 20 nanómetros (10-9 m), dependiendo del microscopio, mientras que con el óptico es de 0,2 micrómetros (10-6 m). La figura 1 muestra los distintos tipos de células y componentes que pueden ser vistas con el microscopio electrónico y con el microscopio óptico.

 

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Figura 1.- Comparación de la resolución entre microscopio óptico y electrónico

 

¿Cómo es su funcionamiento? 

 

En este tipo de microscopio la luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por electroimanes (Figura 2) y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie. Un detector recoge y amplifica la señal emitida por la interacción del haz de electrones incidente con la muestra y en un tubo de rayos catódicos (TV) se forma la imagen en tres dimensiones para ser observada y fotografiada. Existe una sincronización entre movimiento de barrido del haz de electrones a través de la muestra y el movimiento del haz de rayos catódicos por lo que se produce una representación punto a punto del área explorada (Figura 3).

 

 

 

Figura 2.- Arquitectura de un SEM

Figura 3.- Formación de la imagen en un SEM

 

Al incidir el haz de electrones sobre la muestra, interactúa con ella y se producen diversos fenómenos que serán captados y visualizados en función del detector que utilicemos. Entre las señales generadas en un SEM (Figura 4) cabe destacar los electrones secundarios que proporcionan una valiosa información topográfica de la muestra, los electrones retrodispersados que nos permiten conocer la composición superficial de la muestra y los rayos X que facilitan información analítica de la misma (Figura 5).

Figura 4.- Interacción electrón-muestra 

 

 

 

Imagen electrones secundarios

Imagen electrones retrodispersados  

Espectro de rayos X de una muestra de Cu y Zn

Figura 5.- Señales generadas en un SEM

 

"Pasar el ratón sobre la imagen para descripción"

 

Imágenes tomadas con el microscopio electrónico de barrido (MEB)

  

avest-02 

Pluma de avestruz. 100 aumentos. / E. Urea

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería

  

 

Pluma de gallina. 100 aumentos. / E. Urea

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería

  

 

Pluma de gallina. 500 aumentos. / E. Urea

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería

  

 

Pelo de gato. 1.000 aumentos. / E. Urea

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería

  

 

Pelo de gato. 2.000 aumentos. / E. Urea

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería

  

 

Bacterias. Escherichia coli. 3.000 aumentos. / E. Urea

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería

  

 

Bacterias. Escherichia coli. 8.000 aumentos. / E. Urea

(Bacterias sobre un filtro Millipore con un diámetro de poro de 0.2 micras).

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería 

 

  

 

Bacteria. Escherichia coli. Bipartición. 18.000 aumentos. / E. Urea

(Bacterias sobre un filtro Millipore con un diámetro de poro de 0.2 micras).

Imagen cedida por el Servicio de microscopía de los Servicios Centrales de Investigación. Universidad de Almería

 

  

 

Polen. Diplotaxis siettiana. 1.200 aumentos. / E. Urea, J. Capel, J. Vílchez

 

 

Polen. Diplotaxis siettiana. 2.000 aumentos. / E. Urea, J. Capel, J. Vílchez

 

 

Polen. Diplotaxis siettiana. 3.500 aumentos. / E. Urea, J. Capel, J. Vílchez

 

 

Polen. Diplotaxis siettiana. 3.500 aumentos. / E. Urea, J. Capel, J. Vílchez

 

 

Polen. Diplotaxis siettiana. 4.000 aumentos. / E. Urea, J.Capel, J. Vílchez

 

 

Polen. Diplotaxis siettiana. 8.000 aumentos. / E. Urea, J. Capel, J. Vílchez

 
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